Wegweisende Fortschritte in der Halbleiteranalyse
Gewinnen Sie mit unserem Webinar neue Einblicke in die Halbleitertechnologie. Lernen Sie die fortschrittlichen Funktionen des TESCAN SOLARIS X kennen, die zur Verbesserung Ihrer Analyseabläufe entwickelt wurden.
In dieser Sitzung werden die hochentwickelten Möglichkeiten von TESCAN SOLARIS X behandelt, wobei die Fähigkeit zur schnellen, großflächigen Schnittführung und Probenvorbereitung ohne die negativen Auswirkungen der Ga+-Ionen-Exposition hervorgehoben wird. Es werden detaillierte Anwendungen der Plasma-FIB-SEM-Technologie vorgestellt, wobei der Schwerpunkt auf der Untersuchung und Verbesserung von Halbleitermaterialien und deren Leistung liegt.
Zu den wichtigsten Themen gehört die Integration von hochauflösenden Endpunktverfahren, die für das Verständnis des Materialverhaltens und die Entwicklung effizienterer und leistungsfähigerer Halbleitertechnologien unerlässlich sind.
Treffen Sie den Gastgeber
Lukas Hladik, Product Marketing Manager bei der TESCAN Group, ist ein Experte für Halbleitertechnologie und -analyse und verfügt über ein umfangreiches Wissen in der Halbleiterforschung und -entwicklung.
Sehen Sie sich die Aufzeichnung an, um wertvolle Einblicke in die Bewältigung der Herausforderungen bei der Analyse von Halbleiterproben zu gewinnen und Ihr technisches Wissen über TESCAN SOLARIS X zu verbessern.