Optimierte Erfassungstrajektorien für hervorragende Bildqualität bei verschiedenen Probengeometrien
Die Mikro-CT-Systeme von TESCAN bieten bis zu 11 Freiheitsgrade, die eine Vielzahl von Scan-Trajektorien ermöglichen, um die Erfassung für verschiedene Probenformen und -typen zu optimieren. Spezielle Scanverfahren werden eingesetzt, um Kegelstrahlartefakte an den oberen und unteren Kanten zylindrischer Zellen zu eliminieren.
Die Integration schraubenförmiger oder gestapelter Erfassungstrajektorien ermöglicht eine qualitativ hochwertige Untersuchung von Anodenüberhängen und anderen horizontalen Merkmalen in Batteriezellen. Die Extended Cone Beam CT™ von TESCAN gewährleistet artefaktfreie Rekonstruktionen von flachen und dichten Proben. Durch Offset-Scanning oder Kacheln des Detektors kann das horizontale Sichtfeld verdoppelt werden, um große Proben zu scannen oder das analysierte Volumen mit kleinen Voxelgrößen zu maximieren.
Kleinste Details mit der Submikrometer-Auflösung von Micro-CT sichtbar machen
Mit einer modernen nanofokussierten Röntgenquelle, präzisen Tischen und hochwertigen Detektoren erreicht unser Mikro-CT-System eine räumliche Auflösung von bis zu 600 nm. Unsere Integration von Technologien ermöglicht eine detaillierte Analyse von Batteriematerialien und inneren Strukturen auf Submikron-Ebene.
Durch die intelligente Synchronisierung aller Hardware- und Softwarekomponenten werden Datensätze in höchster Auflösung und mit beeindruckender Geschwindigkeit erzeugt.
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Volume of Interest Scanning (VOIs™) für Multi-Scale-Analysen an intakten Zellen
TESCAN VOIs™ vereinfacht die Multiskalenanalyse auf nur wenige Klicks. Vollständige Zellen können innerhalb von Minuten in hoher Qualität gescannt werden, was die Lokalisierung von Defekten wie Einschlüssen mit hoher oder geringer Dichte, Elektrodenablösungen oder -rissen und anderen interessanten Merkmalen ermöglicht.
Das absolute Koordinatensystem in den Mikro-CT-Scannern von TESCAN ermöglicht zusammen mit dem integrierten Mikro-Positioniertisch eine einfache Lokalisierung dieser Bereiche auf rekonstruierten Datensätzen für eine automatische Neupositionierung und eine stärkere Vergrößerung.
TESCAN VOIs™ ermöglicht eine schnelle Mehrskalenprüfung aller wichtigen Komponenten mit hervorragender Auflösung und Bildqualität. Es ist so einfach wie 1 - 2 - Scannen.
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