Unsere Rolle für den Erfolg von MC2023
Vom 26. Februar bis 2. März brachte die MC2023 führende Experten und Nachwuchsforscher aus verschiedenen Bereichen wie Materialwissenschaften, Biowissenschaften, Instrumentierung und Methoden zusammen. Die Veranstaltung bot eine Plattform, um über aktuelle Trends zu diskutieren und neue Entdeckungen zu erforschen.
TESCAN hielt einen umfassenden 60-minütigen Vortrag mit dem Titel "The Role of Electron Microscopy and Focused Ion Beam Characterization Methods in the Evaluation of Electrochemical Materials and Their Interphases". Dieser Vortrag beleuchtete den Beitrag von TESCAN zur Verbesserung der Analyse von Batteriematerialien.
Außerdem stellten wir an zwei Ständen unser AMBER X Plasma FIB-SEM vor, ein wichtiges Werkzeug für die Analyse von Batterietechnologie. Ausgestattet mit einer integrierten ToF-SIMS-Lösung, demonstrierte AMBER X die Fortschritte, die TESCAN in diesem Bereich gemacht hat.
Dank an unser Publikum bei MC2023
Unser herzlicher Dank geht an alle, die uns während der Veranstaltung besucht und sich mit uns ausgetauscht haben, um unsere Lösungen für die Weiterentwicklung von Batterien zu erkunden.
Wenn Sie einen tieferen Einblick in unser AMBER X Plasma FIB-SEM und andere TESCAN-Lösungen erhalten möchten, laden wir Sie ein, unsere Website zu besuchen. Bleiben Sie dran für weitere Updates zu kommenden Veranstaltungen und Weiterentwicklungen von TESCAN!
