Fortgeschrittene Materialcharakterisierungstechniken: TESCAN an der Technischen Universität Istanbul

Es wird persönlich - wir freuen uns, an einem praktischen Workshop über fortgeschrittene Materialcharakterisierungstechniken mit SEM, FIB-SEM, STEM und MicroCT teilnehmen zu können. Dieser Workshop, der sich an Forscher und Wissenschaftler richtet, die die Grenzen der Materialwissenschaft ausloten, findet am Mittwoch, den 29. Mai 2024, an der Technischen Universität Istanbul statt.

Auf dem Programm stehen namhafte Referenten wie Dr. Tomáš Šamořil und Dr. Daniel Němeček, die sich mit Themen wie der korrelativen FIB-SEM-Charakterisierung und der Charakterisierung im Nanobereich mit modernen Mikroskopen befassen werden.

Hier ein kleiner Einblick in das Programm:

• 09:00-09:30: Willkommensrede
• 09:30-10:30: Korrelative FIB-SEM-Charakterisierung für den Fortschritt der materialwissenschaftlichen Forschung - Dr. Tomáš Šamořil
• 10:30-11:00: Kaffeepause
• 11:00-12:00: Die Charakterisierung von Materialien auf der Nanoskala mit einem modernen multimodalen analytischen STEM-Mikroskop - Dr. Daniel Němeček
• 12:00-13:00: Mittagspause
• 13:00-14:00: Fortgeschrittene 3D- und 4D-Bildgebung für Struktur- und Zusammensetzungsanalysen in der Batterieentwicklung und Materialwissenschaft - Dr. Wesley De Boever
• 14:00-14:30: Kaffeepause
• 14:30- 15:30: Oberflächen- und Untergrundcharakterisierung von Lithium-Ionen-Batteriematerialien mittels FIB-SEM mit integriertem TOF-SIMS - Dr. Tomáš Šamořil
• 15:30-16:30: Fragen und Antworten

Möchten Sie mehr wissen?
Unter diesem Link finden Sie ein detailliertes Programm und Informationen zu den Referenten! https://docs.google.com/forms/d/1Mk9LwrOHXN5nrpBrw65A_HW20IA_SUl3xHhnTlLUgnI/viewform?pli=1&pli=1&edit_requested=true

Dieser Workshop verspricht eine wertvolle Plattform für Forscher zu sein, um Einblicke in bahnbrechende Materialcharakterisierungsverfahren zu gewinnen. Wir freuen uns darauf, Diskussionen und Kooperationen auf diesem Gebiet zu fördern!