Entdecken Sie, wie FIB-SEM in Verbindung mit Raman und TOF-SIMS tiefe Einblicke in die Verschlechterung von Li-Ionen-Batterieelektroden gewährt.
In diesem Webinar wird das Verhalten von Li-Ionen-Batterien anhand eines integrativen Ansatzes mit FIB-SEM, Raman-Spektroskopie und ToF-SIMS untersucht.
Es wird gezeigt, wie diese kombinierten Techniken die inhomogene Verschlechterung von Mikrostrukturen in Batterieelektroden bewerten und einzigartige Einblicke in die Leistungsverschlechterung auf mehreren Ebenen bieten.
Treffen Sie den Gastgeber
Dr. Dean Miller von TESCAN GRUPPE ist ein anerkannter Experte auf dem Gebiet der Elektronenmikroskopie mit umfassender Erfahrung in der Analyse von Batteriematerialien.