Nehmen Sie an einem der nächsten Webinare teil, das neue Einblicke in die Analyse von Halbleiterbauelementen verspricht. Das gemeinsam von der TESCAN Group und Imina Technologies organisierte Webinar befasst sich mit innovativen Methoden für die automatisierte großflächige Plasma-FIB-Verzögerung und das In-situ-Nanoprobing moderner Halbleiterbauelemente.
Titel des Webinars: "Automatisiertes großflächiges Plasma FIB Delayering & in-situ Nanoprobing der gängigsten Halbleiterbauelemente"
Datum und Uhrzeit: 12. Junith 2024 9.00 und 17.00 Uhr MESZ