TESCAN freut sich, seine Teilnahme an der Konferenz Microscopy & Microanalysis (M&M) 2024 ankündigen zu können, die vom 29. Juli bis 1. August in Cleveland, Ohio, USA, stattfindet.
Diese geschätzte Veranstaltung ist ein wichtiger Treffpunkt für Experten im Bereich Mikroskopie und Mikroanalyse, und wir freuen uns darauf, der wissenschaftlichen Gemeinschaft unsere neuesten Fortschritte und Beiträge zu präsentieren. In diesem Jahr freuen wir uns besonders darauf, TESCAN AMBER 2 vorzustellen, das lang erwartete Upgrade unserer AMBER-Serie.
Erleben Sie die Zukunft der Mikroskopie
Besuchen Sie uns am Stand 521 und sehen Sie sich unsere Demosysteme an, darunter TESCAN AMBER 2, TESCAN CLARA, TESCAN TENSOR und TESCAN micro-CT.
Unser Expertenteam steht Ihnen für Live-Demonstrationen zur Verfügung, beantwortet Ihre Fragen und erläutert, wie unsere innovativen Lösungen Ihre Forschungs- und Entwicklungsabläufe verbessern können.
Offizielle Einführung von TESCAN AMBER 2
Wir freuen uns, die offizielle Einführung des TESCAN AMBER 2 auf der M&M 2024 ankündigen zu können. Die Einführungsveranstaltung findet am 29. Juli an unserem Stand (Nr. 521) statt.
Dies ist Ihre Gelegenheit, die Entwickler dieses fortschrittlichen FIB-SEM-Systems zu treffen und seine Möglichkeiten zu erkunden. AMBER 2 bietet außergewöhnliche Geschwindigkeit, Präzision und Vielseitigkeit für eine umfassende Probenvorbereitung und -charakterisierung.
Entdecken Sie unsere neuesten Tools: TESCAN AURA Gentle Ion Beam ™ und TEM AutoPrep Pro™
Neben AMBER 2 stellen wir zwei neue Tools vor, die die TEM-Probenvorbereitung verbessern:
TESCAN AURA Gentle Ion Beam™: Dieses System minimiert Gallium-FIB-induzierte Schäden bei der TEM-Probenpräparation und gewährleistet minimale Amorphisierungsschäden und den Erhalt der kristallinen Struktur der Proben.
TESCAN TEM AutoPrep Pro™: Diese Software automatisiert und optimiert den gesamten TEM-Probenvorbereitungsprozess und steigert die Produktivität durch die Ausführung von Aufgaben wie Fräsen, Ausheben, Trimmen und Polieren während unbeaufsichtigter Nachtläufe.
Besuchen Sie unsere wissenschaftlichen Präsentationen
Unser Team wird auf der Konferenz mehrere wissenschaftliche Beiträge präsentieren. Besuchen Sie unbedingt diese Sitzungen, um neue Erkenntnisse zu gewinnen und sich über die neuesten Fortschritte in der Mikroskopie und Mikroanalyse zu informieren:
Spektrale Mikro-CT-Bildgebung von Mineralien zur Gewinnung atomarer Informationen und Dichtekarten
Datum & Zeit: Montag, 29. Juli 2024, 3:00 - 5:00 PM
Ort: Ausstellungshalle Poster Board 7
Vortragender: Wesley De Boever, Ph.D.
Ein neuer, voll integrierter, einziehbarer 4D STEM-Detektor für Rasterelektronenmikroskope mit Timepix3-basiertem Pixeldetektor
Datum & Zeit: Montag, 29. Juli 2024, 3:00 - 5:00 PM
Ort: Ausstellungshalle Poster Board ?
Vortragender: Rastislav Motuz
Das Verhalten von Batterieelektrolyten während der Bildung und Erwärmung: neue Erkenntnisse durch hochauflösende und dynamische Mikro-CT
Datum & Zeit: Dienstag, 30. Juli 2024, 11:45 AM - 12:00 PM
Ort: Huntington Convention Center Raum 19
Vortragende: Ksenija Nikolic, Ph.D.
Vereinbaren Sie einen Termin mit unserem Kundenservice-Team
Unser Kundendienstteam wird während der gesamten Konferenz zur Verfügung stehen, um Ihre spezifischen Bedürfnisse zu erörtern und Ihnen zu zeigen, wie die Lösungen von TESCAN Ihre Forschungs- und Entwicklungsarbeit unterstützen können.
Vereinbaren Sie einen Termin mit unserem Team, um das Beste aus Ihrem Besuch auf der M&M 2024 herauszuholen.
Besuchen Sie uns an Stand 521
Wir laden Sie ein, unseren Stand zu besuchen, einen Demo-Slot zu buchen und alles über TESCAN AMBER 2 und unsere neuen Tools zu erfahren. Verpassen Sie nicht die Gelegenheit, sich mit unseren Experten auszutauschen und aus erster Hand zu erfahren, wie TESCAN den Bereich der Mikroskopie und Mikroanalyse voranbringt.
Weitere Informationen über TESCAN AMBER 2 und unsere neuen Tools finden Sie auf unserer Website: https://info.tescan.com/matsci-fib-sem/tescan-amber-2